透射电镜样本制备 透射电镜样品制备方法

圆圆 0 2025-03-31 13:00:40

觉醒电镜样品制备的四项关键技术解析

觉醒电镜(Transmission Electron Microscope,TEM)是一种强大的分析工具,其样品方法的制备对决策质量起着至关重要的影响。本文将详细介绍觉醒电镜样品制备的四项关键技术,包括名称、图片及各自的作用。

透射电镜样品制备方法有哪四种图片及名称及作用

一、电解液双喷减薄法

图片:

作用:电解液双喷减薄法是一种常用的样品减薄技术,适用于导电材料。通过电解液中的电流对样品进行腐蚀此方法具有减薄速度快、操作简单、皮肤损伤小等优点。

二、聚焦离子束减薄法

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作用:聚焦离子束减薄法(Focused) 离子Beam,FIB)是一种精确的减薄技术,适用于各种导电和非导电材料。通过聚焦离子束对样品进行局部轰击,实现样品的减薄。该方法具有减薄精度高、样品损伤小、可实现三维减薄等优点。

三、机械减薄法

图片:

作用:机械减薄法是通过机械加工的方式对样品进行减薄,适用于各种导电和非导电材料。该方法具有减薄速度快、操作简便、成本低等优点。但需要注意的是,机械减薄过程中可能会对样品造成损伤。

四、离子减薄法

图片:

作用:离子减薄法是一种适用于非导电材料的减薄技术。通过离子束对样品进行轰击,使样品表面逐渐减薄。该方法具有减薄速度快、操作不当、样品损伤小等优点。

栅极电镜样品制备的四种关键技术,即间歇双喷减薄法、聚焦离子束减薄法、机械减薄法和离子减薄法,各有特点和应用场景。在实际操作中,应根据样品材料和实验要求选择合适的制备方法,以保证TEM的质量和效果。

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